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隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工電子產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來越復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護措施，才能保證產(chǎn)品在儲存運輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因而，對電工電子產(chǎn)品進行人工模擬環(huán)境試驗和必要的著火危險試驗是保證其在生產(chǎn)、運輸、使用等各環(huán)節(jié)中都安全可靠所*的重要環(huán)節(jié)。出廠前對電工電子產(chǎn)品進行人工模擬環(huán)境試驗是保證質(zhì)量所*的重要環(huán)節(jié)，因此環(huán)境試驗條件、試驗方法、試驗設(shè)備、各項著火危險試驗是否符合標(biāo)準(zhǔn)關(guān)系重大。多年來我國制修訂了很多這方面的國家標(biāo)準(zhǔn)，我們陸續(xù)出版過電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方面標(biāo)準(zhǔn)的系列匯編，受到讀者歡迎。
　　截至目前為止，該方面國家標(biāo)準(zhǔn)共計147項，其中2005年以來新制修訂的電工電子環(huán)境試驗、著火危險試驗及特殊環(huán)境條件方面的國家標(biāo)準(zhǔn)共有59項，并廢止17項（不包括代替）。這些標(biāo)準(zhǔn)受到廣大電工電子產(chǎn)品研制、生產(chǎn)、檢驗、運輸、使用人員的關(guān)注。我們特此匯集整理，分5冊陸續(xù)出版：
　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗國家標(biāo)準(zhǔn)匯編（第四版）
　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件國家標(biāo)準(zhǔn)匯編（第三版）
　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備國家標(biāo)準(zhǔn)匯編（第三版）
　　電工電子產(chǎn)品著火危險試驗國家標(biāo)準(zhǔn)匯編（第二版）
　　電工電子產(chǎn)品特殊環(huán)境條件國家標(biāo)準(zhǔn)匯編（*版）
　　本冊為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備國家標(biāo)準(zhǔn)匯編（第三版）》，
　　共匯集了截至2007年6月底我國正式發(fā)布實施且現(xiàn)行有效的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法方面的國家標(biāo)準(zhǔn)15項及有關(guān)低溫箱、高溫箱、濕溫箱、鹽霧箱和霉菌箱等試驗設(shè)備的國家標(biāo)準(zhǔn)8項，共計23項。
　　本匯編收集的國家標(biāo)準(zhǔn)均為推薦性國家標(biāo)準(zhǔn)（目錄中標(biāo)明GB／T），標(biāo)準(zhǔn)年號用四位數(shù)字表示。鑒于部分國家標(biāo)準(zhǔn)是在國家標(biāo)準(zhǔn)清理整頓前出版的，現(xiàn)尚未修訂，故正文部分仍保留原樣；讀者在使用這些國家標(biāo)準(zhǔn)時，其屬性以本目錄標(biāo)明的為準(zhǔn)（標(biāo)準(zhǔn)正文“引用標(biāo)準(zhǔn)”中的標(biāo)準(zhǔn)的屬性請讀者注意查對）。由于所收錄標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布年代不盡相同，我們對標(biāo)準(zhǔn)中所涉及到的有關(guān)量和單位的標(biāo)注方法未作統(tǒng)一改動。
[編輯本段]目錄
　　環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
　　GB／T5170．1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則
　　GB／T5170．2—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
　　GB／T5170．5—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備
　　GB／T5170．8—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備
　　GB／T5170．9—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備
　　GB／T5170．10—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備
　　GB／T5170．11—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備
　　GB／T5170．13—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用機械振動臺
　　GB／T5170．14—1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用電動眼動臺
　　GB／T5170．15—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用液壓振動臺
　　GB／T5170．16—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機
　　GB／T5170．17—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫／低氣壓／濕熱綜合順序試驗設(shè)備
　　GB／T5170．18—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備
　　GB／T5170．19—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／振動（正弦）綜合試驗設(shè)備
　　GB／T5170．20—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備
　　環(huán)境試驗設(shè)備
　　GB／T10586—2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
　　GB／T10587—2006鹽霧試驗箱技術(shù)條件
　　GB／T10588—2006長霉試驗箱技術(shù)條件
　　GB／T10589—1989低溫試驗箱技術(shù)條件
　　GB／T10590—2006高低溫／低氣壓試驗箱技術(shù)條件
　　GB／T10591—2006高溫／低氣壓試驗箱技術(shù)條件一
　　GB／T10592—1989高低溫試驗箱技術(shù)條件
　　GB／T11158—1989高溫試驗箱技術(shù)條件